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Substrato CZT

breve descrizione:

Elevata scorrevolezza
2. Corrispondenza reticolare elevata (MCT)
3. Bassa densità di dislocazioni
4. Alta trasmissione a infrarossi


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Descrizione

Il cristallo CdZnTe CZT è il miglior substrato epitassiale per il rilevatore a infrarossi HgCdTe (MCT) grazie alla sua eccellente qualità del cristallo e alla precisione della superficie.

Proprietà

Cristallo

CZT (Cd0,96Zn0,04Te)

Tipo

P

Orientamento

(211), (111)

Resistività

>106Ω.Cm

Trasmittanza infrarossa

≥60% (1,5um-25um)

(DCRC FWHM)

≤30 rad.s

EPD

1x105/cm2<111>;5x104/cm2<211>

Ruvidezza della superficie

Ra ≤ 5 nm

Definizione del substrato CZT

Il substrato CZT, noto anche come substrato di tellururo di cadmio e zinco, è un substrato semiconduttore costituito da un materiale semiconduttore composto chiamato tellururo di cadmio e zinco (CdZnTe o CZT).CZT è un materiale con bandgap diretto ad alto numero atomico adatto per una varietà di applicazioni nel campo del rilevamento di raggi X e raggi gamma.

I substrati CZT hanno un ampio bandgap e sono noti per la loro eccellente risoluzione energetica, l'elevata efficienza di rilevamento e la capacità di funzionare a temperatura ambiente.Queste proprietà rendono i substrati CZT ideali per la produzione di rilevatori di radiazioni, in particolare per applicazioni di imaging a raggi X, medicina nucleare, sicurezza nazionale e astrofisica.

Nei substrati CZT, il rapporto tra cadmio (Cd) e zinco (Zn) può essere variato, consentendo la regolazione delle proprietà del materiale.Regolando questo rapporto, il gap di banda e la composizione di CZT possono essere adattati ai requisiti specifici del dispositivo.Questa flessibilità compositiva fornisce prestazioni e versatilità migliorate per le applicazioni di rilevamento delle radiazioni.

Per fabbricare substrati CZT, i materiali CZT vengono generalmente coltivati ​​utilizzando vari metodi, tra cui la crescita Bridgman verticale, il metodo del riscaldatore mobile, la crescita Bridgman ad alta pressione o i metodi di trasporto del vapore.I processi post-crescita come la ricottura e la lucidatura vengono solitamente eseguiti per migliorare la qualità del cristallo e la finitura superficiale del substrato CZT.

I substrati CZT sono stati ampiamente utilizzati nello sviluppo di rilevatori di radiazioni, come sensori basati su CZT per sistemi di imaging a raggi X e gamma, spettrometri per l'analisi dei materiali e rilevatori di radiazioni per scopi di ispezione di sicurezza.L'elevata efficienza di rilevamento e la risoluzione energetica li rendono strumenti preziosi per test non distruttivi, imaging medico e applicazioni di spettroscopia.


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